Подарите скидку 10%
Посоветуйте эту книгу и получите 9,61 ₽ с покупки её другом.
Основной контент книги Оптимизация тестирования сложных цифровых устройств
Текст PDF
Объем 6 страниц
2014 год
Оптимизация тестирования сложных цифровых устройств
Входит в серию «Прикладная информатика. Научные статьи»
Бесплатно
96 ₽
О книге
В статье изложены основные принципы объединения отдельных тестовых проверок модулей, составляющих цифровое устройство, в единую тест-программу. Объединение проверок проводится при неполной информации относительно реакций неисправного устройства. Формулируются свойства оптимально упорядоченной последовательности проверок в тесте. Предлагаются эвристические алгоритмы упорядочения проверок.
Входит в серию "Прикладная информатика. Научные статьи"
Войдите, чтобы оценить книгу и оставить отзыв
Книга И. О. Атовмяна, В. Б. Шувалова и др. «Оптимизация тестирования сложных цифровых устройств» — скачать в pdf или читать онлайн. Оставляйте комментарии и отзывы, голосуйте за понравившиеся.
